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J-GLOBAL ID:200903063582059320

比色分析装置のランプ切れ検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 森本 義弘
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997149800
Publication number (International publication number):1998339697
Application date: Jun. 09, 1997
Publication date: Dec. 22, 1998
Summary:
【要約】【課題】 比色分析装置において、濁水の混入などによる受光素子への検出光量の低下と、ランプ切れによる受光素子への検出光量の低下とを識別し、ランプ切れの状態を確実に判定できるようにする。【解決手段】 透過窓を有する試料測定セル1に光源2からの光3を透過させ、その透過光を受光素子4で検出することによって得られる試料の吸光度にもとづいて、その試料の濁度や色度を測定するようにした比色分析装置である。光源2のランプの光量をモニタするモニタ用受光素子12と、このモニタ用受光素子12からの信号にもとづいて光源2のランプ切れを判定する判定回路13とを有する。
Claim (excerpt):
透過窓を有する試料測定セルに光源からの光を透過させ、その透過光を受光素子で検出することによって得られる試料の吸光度にもとづいて、その試料の濁度や色度を測定するようにした比色分析装置において、前記光源のランプの光量をモニタするモニタ用受光素子と、このモニタ用受光素子からの信号にもとづいて前記光源のランプ切れを判定する判定回路とを有することを特徴とする比色分析装置のランプ切れ検出装置。
IPC (3):
G01N 21/01 ,  G01J 3/10 ,  G01N 21/59
FI (3):
G01N 21/01 D ,  G01J 3/10 ,  G01N 21/59 Z

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