Pat

J-GLOBAL ID：200903063590528860

大型物体の表面の三次元測定方法及び装置

Inventor： ラウール アンリ ジャン-リューク マイヤール ,  ミシェル ルキーム ,  パスカル ベラミー ,  ガブリエル ドゥ スメ
Applicant, Patent owner： ベルタン エ コンパニー ,  ソラック
Agent (1)： 山本 恵一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995144225
Publication number (International publication number)：1996101032
Application date： May. 19, 1995
Publication date： Apr. 16, 1996
Summary：

【要約】【目的】 大型物体の表面の三次元測定を早く性格に行うことを目的とする。【構成】 三次元測定の方法と装置とが、車両などの大型物体(15)の高速高精度測定に利用される。本方法は、形状測定センサ(3)の測定位置を近似的に決定する段階と、物体上の点であってセンサに関わる座標系内で座標が表現される点によって表わされる表面部分の形状を測定するため、測定位置に次々とセンサ(3)を位置決めする段階と、所定の固定座標系内において、近似的に決定された位置におけるセンサの位置を正確に標定する段階と、センサの標定位置に応じて、センサに関わる座標系内で表現される表面部分の座標を固定座標系内で表現される座標値に変換する段階とを含む。

Claim (excerpt)：

-形状測定手段(3)の測定位置(PM1 〜PMR )を近似的に決定する段階(E20)と、-形状測定手段に関わる座標系内(0S、XS、YS、ZS)で座標が表現される物体上の点である被測定物体(15)の表面部分の形状を測定する(E33、E34)ため、決められた測定位置に次々と形状測定手段(3)を位置決めする段階と、-所定の固定座標系(0、X、Y、Z)内において、基準点合わせ手段(35)により形状測定手段(3)の各前記位置の正確な位置を求める段階(E35)と-形状測定手段に関わる前記座標系(0、X、Y、Z)内で表現される表面部分の座標を、固定座標系内で決められる形状測定手段の位置に応じて固定座標系内で表現される前記位置の座標に変換する段階(E36)とを含むことを特徴とする、形状測定手段(3)による物体(15)の表面の三次元測定方法。

IPC (2)：

G01B 21/20 101 ,  G01B 11/24