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J-GLOBAL ID：200903063637500390

はんだ接合部の熱疲労寿命診断方法とその装置

Inventor： 久里 裕二 ,  伊藤 義康 ,  板谷 雅雄 ,  北野 誠二
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (6)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003389707
Publication number (International publication number)：2005148016
Application date： Nov. 19, 2003
Publication date： Jun. 09, 2005
Summary：

【課題】非破壊ではんだ接合部の精度の高い熱疲労寿命を予測する。【解決手段】予め電気回路のはんだ接続部3に発生する繰返し熱応力に起因する塑性ひずみ(Δεp)を有限要素法ニ次元の弾塑性解析にて求める工程12と、電気回路に対する温度サイクル試験実施後のはんだ接合部の観察によって求めたき裂進展速度(da/dn)と塑性ひずみ(Δεp)との関係を示すき裂進展速度式を求める工程18と、塑性ひずみとき裂進展速度とはんだ接合部の接合長と貫通に至るまでの寿命サイクル数との関係を示す寿命評価基準式を求める工程20と、指定された診断対象の電気回路のはんだ接合部の接合長に対応する寿命サイクル数を前記寿命評価基準式を用いて求める工程20とを備えている。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

予め電気回路のはんだ接続部に発生する繰返し熱応力に起因する塑性ひずみを有限要素法ニ次元の弾塑性解析にて求める工程と、 前記電気回路に対する温度サイクル試験実施後のはんだ接合部の観察によって求めたき裂進展速度と前記塑性ひずみとの関係を示すき裂進展速度式を求める工程と、 前記塑性ひずみとき裂進展速度とはんだ接合部の接合長と貫通に至るまでの寿命サイクル数との関係を示す寿命評価基準式を求める工程と、 指定された診断対象の電気回路のはんだ接合部の接合長に対応する寿命サイクル数を前記寿命評価基準式を用いて求める工程と を備えたことを特徴とするはんだ接合部の熱疲労寿命診断方法。

IPC (3)：

G01N3/32 ,  G01N19/04 ,  H05K3/34

FI (3)：

G01N3/32 E ,  G01N19/04 A ,  H05K3/34 512A

F-Term (15)：

2G061AB05 ,  2G061AC03 ,  2G061AC04 ,  2G061AC09 ,  2G061BA03 ,  2G061BA15 ,  2G061CB16 ,  2G061CB19 ,  2G061DA12 ,  5E319AC01 ,  5E319CC22 ,  5E319CD26 ,  5E319CD52 ,  5E319CD53 ,  5E319GG03

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 特開平3-128431号公報
  

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 熱疲労によるSn-Ag,Sn-Zn鉛フリーはんだ接合部の信頼性評価
• はんだ接合部の劣化・寿命診断方法の開発