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J-GLOBAL ID：200903063764130046

大規模集積回路の故障シミュレーション方式

Inventor： 関根 美穂
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社
Agent (1)： 後藤 洋介 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992316959
Publication number (International publication number)：1994162131
Application date： Nov. 26, 1992
Publication date： Jun. 10, 1994
Summary：

【要約】【目的】 RAM内臓LSIをシミュレーションモデル化してその故障動作解析を実行する際に、マシンリソースの削減と故障情報の検出の容易化を図る。【構成】 前段ロジック32の故障情報をRAM31a内部のメモリセルを経由せず、バイパス31c,31dによってセレクタ31b,31cに直接伝搬するモデルに変換する。セレクタ31b,31cでは、論理シミュレーションにより得られたRAM31aの出力データと前段ロジック32の故障情報とのいずれか一方をイネーブル信号WEに基づいて選択し、後段ロジック32に出力する。

Claim (excerpt)：

RAMと、該RAMの前後段に夫々配された論理回路とを含んでなる大規模集積回路の故障を模擬的に発生させてその動作解析を行う故障シミュレーション方式であって、前記大規模集積回路をシミュレーションモデルに変換するシミュレーションモデル変換手段と、変換されたシミュレーションモデルに予め定めた定義故障及び所定のテストパターンを付与して故障情報を得る故障情報出力手段とを有し、前記シミュレーションモデル変換手段は、RAM前段の論理回路の通常出力を前記RAMを介してRAM後段の論理回路に導くと共に、前記テストパターン入力時にはRAM前段の論理回路の出力を直接RAM後段の論理回路に導くモデルに変換することを特徴とする大規模集積回路の故障シミュレーション方式。

IPC (3)：

G06F 15/60 360 ,  G01R 31/28 ,  G06F 11/26 310