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J-GLOBAL ID:200903063773874619

ひずみ測定方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高橋 敏忠 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000305921
Publication number (International publication number):2002116004
Application date: Oct. 05, 2000
Publication date: Apr. 19, 2002
Summary:
【要約】【課題】 多数のケージを仕様する必要が無く、特殊な知識や技術や高価な機器が不要である様なひずみ測定方法及び装置と、損傷箇所や破壊点が母材中のどの箇所であっても内部損傷を検出することが出来て、しかも、光ファイバーや圧電材料を材料内に埋没させること無く内部損傷を検出する方法及び装置と、それ等に用いられる複合材料の提供。【解決手段】 導電性の芯材(12)とその表面を被覆し且つ芯材(12)よりかなり大きい電気抵抗を有する被覆層(13)とを有する複合強化用繊維(10)を、樹脂や金属やセラミックスや複合材料のワーク(W、WA)に埋め込んで、芯材(12)の両端(10E、10E)を抵抗が可変できる電気抵抗測定装置(16)と、ひずみ測定装置(18)に接続し、複合強化用繊維(10)に生じる電気抵抗の変動(δR)をひずみに変換して、ワーク(W、WA)のひずみを測定する。
Claim (excerpt):
複合強化用繊維の電気抵抗を計測する工程を有し、前記複合強化用繊維は測定対象物に埋め込まれており、導電性の芯材と、該芯材の周りを被覆し且つ芯材よりも大きな電気抵抗を有する被覆層とを備えており、測定対象物に負荷が作用した際における電気抵抗の変動量を求める工程と、該変動量に基いて測定対象物のひずみを決定する工程、とを有することを特徴とするひずみ測定方法。
F-Term (9):
2F063AA25 ,  2F063AA50 ,  2F063BA14 ,  2F063EC02 ,  2F063EC03 ,  2F063EC30 ,  2F063FA12 ,  2F063FA16 ,  2F063LA29
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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