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J-GLOBAL ID：200903063776671832

分光測定方法及びその装置

Inventor： 木村 雅昭
Applicant, Patent owner： 倉敷紡績株式会社
Agent (1)： 青山 葆 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996333524
Publication number (International publication number)：1998170431
Application date： Dec. 13, 1996
Publication date： Jun. 26, 1998
Summary：

【要約】【課題】容易に、かつ短時間で比較的安価に、高温又は低温のサンプルを、分光測定方法によって定量分析することができる分光測定方法を提供する。【解決手段】 サンプルの温度を、基準温度に近づくように変化させ、上記サンプルの吸光度を複数個測定し、上記基準温度にある状態で作られた検量線を用いて、測定された上記吸光度に対応するサンプルの物性値を算出し、上記物性値を基に、該物性値と時間との相関関係である関数を近似し、上記関数を用いて、上記基準温度の上記サンプルの上記物性値を推算する。

Claim (excerpt)：

少なくとも1つの所定の波長の光に対するサンプルの吸光度を測定し、上記サンプルの吸光度と該サンプルの所定の物理的又は化学的な物性値との相関関係をあらわす検量線を用いて、測定された上記吸光度から上記サンプルの上記物性値を算出するようにした上記サンプルを定量分析の為に分光測定する分光測定方法であって、上記サンプルの温度を所定の基準温度に漸近的に近づくように変化させ、上記サンプルの上記波長の光に対する吸光度を所定時間間隔で複数個測定する一方、上記サンプルが上記基準温度にある状態で作られた検量線を用いて、測定された上記各吸光度に対応する上記吸光度測定時の上記サンプルの物性値を算出し、算出された上記物性値を基にして、該物性値と時間との相関関係を関数で近似し、上記関数を用いて、上記基準温度における上記サンプルの上記物性値を推算するようにしたことを特徴とする分光測定方法。