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J-GLOBAL ID：200903063789014148

定着装置の温度制御方法及び装置

Inventor：
芝木 弘幸

About 芝木 弘幸

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中里 保史

About 中里 保史

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近野 久郎

About 近野 久郎

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沢村 栄二

About 沢村 栄二


Applicant, Patent owner：
株式会社リコー

About 株式会社リコー


Agent (1)： 樺山 亨 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993225875
Publication number (International publication number)：1995077892
Application date： Sep. 10, 1993
Publication date： Mar. 20, 1995
Summary：
【要約】【目的】この発明は、定着装置を傷付けずに定着装置の精密な温度制御を行うことができてコストおよび資源の面でも有効となるようにすることを目的とする。【構成】 この発明は、非接触温度測定手段35の温度測定結果と自己温度測定手段35の温度測定結果をA/D変換回路40,41でそれぞれデジタル値に変換してCPU42により換算テーブル43でこれらの2つのデジタル値に対応した温度データに換算し、この換算結果に基づく測定値に応じて定着装置の温度制御を行う。
Claim (excerpt)：
定着装置から輻射される赤外線を非接触温度測定手段で受光して前記定着装置の温度を測定し、前記非接触温度測定手段自身の温度を自己温度測定手段で測定し、この自己温度測定手段の温度測定結果と前記非接触温度測定手段の温度測定結果に基づいて前記定着装置の温度制御を行う定着装置の温度制御方法において、前記非接触温度測定手段の温度測定結果と前記自己温度測定手段の温度測定結果をそれぞれデジタル値に変換して換算テーブルでこれらの2つのデジタル値に対応した温度データに換算し、この換算結果に基づく測定値に応じて前記定着装置の温度制御を行うことを特徴とする定着装置の温度制御方法。
IPC (5)：
G03G 15/20 109 ,  G03G 15/20 102 ,  G01J 5/10 ,  G05D 23/19 ,  G05D 23/27
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (23)
  • 特開昭60-150074
  • 特開昭60-150074
  • 特開平1-296128
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