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J-GLOBAL ID：200903063826411721

光ヘテロダイン干渉計の位相差測定法

Inventor： 横山 修子
Applicant, Patent owner： 横山 修子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998276378
Publication number (International publication number)：2000065518
Application date： Aug. 24, 1998
Publication date： Mar. 03, 2000
Summary：

【要約】【目的】移動している標的のある時点における位置を光ヘテロダイン干渉計の精度でしかも完全に実時間的に決定する。【構成】光ヘテロダイン干渉計の参照側と計測側の光ビート信号波形の和あるいは差を求めて得られるビート波形の包絡線の変位を求め、変位のアークコサインあるいはアークサインから位相差角を求める。

Claim (excerpt)：

周波数の異なる参照光ビート信号と計測光ビート信号の振幅が等しくなるように制御した後、該2つの信号波形の加算あるいは減算を行い、その結果得られる波形のうなり、すなわち、ビート信号の極値を結んで得られるところの包絡線a(t)の最大値Dと、ある時点tにおける変位量、つまりa(t)を求めさらにa(t)/Dのアークコサインあるいはアークサインを求めることにより時点tにおける位相差決定を行うことを特徴とする光ヘテロダイン位相差測定法。

F-Term (8)：

2F064AA04 ,  2F064CC10 ,  2F064FF01 ,  2F064FF06 ,  2F064HH01 ,  2F064HH06 ,  2F064JJ03 ,  2F064JJ05