Pat
J-GLOBAL ID：200903063833220672
光切断法による対象物の三次元計測方法およびその装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
功力 妙子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994078033
Publication number (International publication number)：1995260444
Application date： Mar. 24, 1994
Publication date： Oct. 13, 1995
Summary：
【要約】 (修正有)【目的】 光切断法により対象物を非接触で三次元計測する方法および装置を提供する。【構成】 スリット光を対象物に直角に照射することによりこの対象物上に設定される平面の方程式を処理手段により求め,カメラの画角内において,平面とカメラとの間に平行な複数の仮想面を設定し,平面と複数の仮想面とに投影される対象物からの反射光を,カメラで撮像するとともに,処理手段により最小自乗法より直線の方程式として求め,カメラから任意の位置に設定した仮想面から平面までの距離を処理手段により求め,直線の方程式と距離とから平面における計測点の三次元座標を求めてこれを対象物の断面デ-タとし,対をなすスリット光とカメラとを一体として対象物の長さ方向に沿って移動させることにより,所定ピッチ毎の断面デ-タを処理手段により求め,これらの各断面デ-タから対象物を三次元計測するようにしたものである。
Claim (excerpt)：
互いに対をなすスリット光とカメラとを互いに内傾させて設置し,対象物に前記スリット光を照射し,その反射光を前記カメラで撮像して三角法により前記カメラと前記対象物までの距離を計測する処理手段を備えた三次元計測方法において,前記スリット光を前記対象物に直角に照射することによりこの対象物上に設定される平面の方程式を前記処理手段により求め,前記カメラの画角内において,前記平面と前記カメラとの間に平行な複数の仮想面を設定し,前記平面と前記複数の仮想面とに投影される前記対象物からの反射光を,前記カメラで撮像するとともに,前記処理手段により最小自乗法より直線の方程式として求め,前記カメラから任意の位置に設定した前記仮想面から前記平面までの距離を前記処理手段により求め,前記直線の方程式と前記距離とから前記平面における計測点の三次元座標を求めてこれを前記対象物の断面デ-タとし,前記対をなすスリット光と前記カメラとを一体として前記対象物の長さ方向に沿って移動させることにより,所定ピッチ毎の断面デ-タを前記処理手段により求め,これらの各断面デ-タから前記対象物を三次元計測することを特徴とする光切断法による対象物の三次元計測方法。
IPC (3)：
G01B 11/24
, G01C 3/06
, G06T 7/00
