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J-GLOBAL ID：200903063856193192

検出装置及びこれを用いたイメージ化装置

Inventor： 宇佐見 護 ,  藤田 貴徳
Applicant, Patent owner： 株式会社栃木ニコン ,  株式会社ニコン
Agent (1)： 四宮 通
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003199426
Publication number (International publication number)：2005037213
Application date： Jul. 18, 2003
Publication date： Feb. 10, 2005
Summary：

【課題】大口径のテレセントリックレンズなどの特殊な結像光学系を用いることなく、一度に検出可能なテラヘルツ光等の電磁波の領域を拡大する。【解決手段】電気光学結晶11は、テラヘルツパルス光を2次元領域で一括受光する。プローブパルス光発生部から発生しテラヘルツパルス光と同期したプローブパルス光が、偏光板13を透過して直線偏光光となった後に、ビームスプリッタ12で反射されて、テラヘルツパルス光と同じ側から電気光学結晶11の前記2次元領域に照射される。偏光板14は、電気光学結晶11を通過してテラヘルツパルス光により偏光状態が変化したプローブパルス光の所定偏光成分を抽出する。拡散板16は、偏光板14を透過したプローブパルス光を広く拡散する。CCDカメラ15は、偏光板14を透過し拡散板16により拡散されたプローブパルス光の強度分布像を撮像する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

電磁波を1次元領域又は2次元領域で一括して受ける電気光学結晶又は磁気光学結晶と、 前記電磁波と同期したプローブ光を、前記電気光学結晶又は前記磁気光学結晶の前記1次元領域又は前記2次元領域に一括照射するプローブ光照射部と、 前記電気光学結晶又は前記磁気光学結晶を通過して前記電磁波により偏光状態が変化した前記プローブ光の所定偏光成分を抽出する検光部と、 前記検光部による所定偏光成分の抽出後の前記プローブ光を、前記電気光学結晶又は前記磁気光学結晶の前記1次元領域又は前記2次元領域の各部位に実質的に対応するもの毎に、それぞれ光電変換する光電変換部と、 前記電気光学結晶又は前記磁気光学結晶と前記光電変換部との間に配置され前記プローブ光を拡散する光拡散部と、 を備えたことを特徴とする検出装置。

IPC (6)：

G01N21/35 ,  G01N21/27 ,  G01R29/08 ,  G01R33/032 ,  G02F1/03 ,  G02F1/09

FI (6)：

G01N21/35 Z ,  G01N21/27 A ,  G01R29/08 F ,  G01R33/032 ,  G02F1/03 505 ,  G02F1/09 505

F-Term (18)：

2G017AA13 ,  2G017AD11 ,  2G059EE01 ,  2G059EE05 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK04 ,  2H079AA08 ,  2H079BA02 ,  2H079CA11 ,  2H079CA21 ,  2H079DA03 ,  2H079DA12 ,  2H079EA11 ,  2H079KA05 ,  2H079KA06