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J-GLOBAL ID：200903063872674389

流速計測装置及び流量計測装置

Inventor： 小沢 金吾 ,  木下 勝年 ,  堂 通久 ,  茂木 良平
Applicant, Patent owner： 株式会社トキメック
Agent (1)： 石戸 元 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997341343
Publication number (International publication number)：1999173890
Application date： Dec. 11, 1997
Publication date： Jul. 02, 1999
Summary：

【要約】【課題】 静水状態等、低流速状態でも精度良く流量を計測することができる流量計測装置を得る。【解決手段】 流体表面の温度ムラパターンを赤外線センサ2によって観測し、異なるタイミングで得られた2つのパターン情報をそれぞれ第1及び第2メモリ6、7に記憶する。そして、第1メモリ6に記憶されたパターン情報のうちの所定部分と、第2メモリ7に記憶されたパターン情報のうちの各部分との相関演算を行い、相関度が最大である場合の距離と2つのタイミングの時間間隔とからパターンの移動速度を算出し、さらに、パターンの移動速度から流体の表面流速を求める。

Claim (excerpt)：

流路内を流れる自由液面を有する流体の流速を計測する流速計測装置において、前記流体表面の温度ムラパターンを観測して電気信号として出力する赤外線センサと、前記赤外線センサにより所定の時間間隔だけ異なる時間タイミングで得られた2つのパターン情報の相関演算を行う相関手段と、前記相関手段により求められた相関関数より得られる前記パターンの変位と前記所定の時間間隔とから前記流体表面に生じたパターンの移動速度を算出する移動速度算出手段と、前記移動速度算出手段によって求められたパターンの移動速度に基づいて前記流体の表面流速を算出する流速算出手段とを有することを特徴とする流速計測装置。

IPC (2)：

G01F 1/712 ,  G01P 5/22

FI (2)：

G01F 1/712 ,  G01P 5/22 G

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平4-138321
  
• 特開昭63-229373
  
• 流速計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-170992   Applicant：アンリツ株式会社
• 特開平2-218964