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J-GLOBAL ID：200903063879508336

磁気共鳴断層撮影装置の作動方法および制御装置

Inventor： マルチン タンク
Applicant, Patent owner： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
Agent (1)： 山口 巖
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004355743
Publication number (International publication number)：2005169119
Application date： Dec. 08, 2004
Publication date： Jun. 30, 2005
Summary：

【課題】できるだけ確実にかつ簡単に、検査中に磁気共鳴断層撮影装置の充分に完全自動化され且つ何時でも再現可能な制御を可能にする。【解決手段】診断上の課題設定に応じて検査すべき検査対象のために可変であるジオメトリを有する解剖学的標準モデルMを選択し、検査対象を含む領域の複数の概観画像を測定し、その概観画像の測定を制御するための種々の概観スキャンパラメータUPを、選択された解剖学的標準モデルMに応じて決定し、測定された概観画像の断層画像データUD内の目標構造を求め、求められた目標構造Zにマッチングするように標準モデルMを個別化し、選択された解剖学的標準モデルMおよび診断上の課題設定に応じて後続の断層画像を測定するために磁気共鳴断層撮影装置1を制御するためのスキャンパラメータSPを選択し、選択されたスキャンパラメータSPを、個別化された解剖学的標準モデルMに対応して個別化し、個別化されたスキャンパラメータISPに基づいて複数の断層画像を測定する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

診断上の課題設定に応じて検査すべき検査対象のために可変であるジオメトリを有する解剖学的標準モデル(M)を選択し、 検査対象を含む領域の複数の概観画像を測定し、その概観画像の測定を制御するための種々の概観スキャンパラメータ(UP)を、選択された解剖学的標準モデル(M)に応じて決定し、 測定された概観画像の断層画像データ(UD)内の目標構造を求め、 求められた目標構造(Z)にマッチングするように標準モデル(M)を個別化し、 選択された解剖学的標準モデル(M)および診断上の課題設定に応じて後続の断層画像を測定するために磁気共鳴断層撮影装置(1)を制御するためのスキャンパラメータ(SP)を選択し、 選択されたスキャンパラメータ(SP)を、個別化された解剖学的標準モデル(M)に対応して個別化し、 個別化されたスキャンパラメータ(ISP)に基づいて複数の断層画像を測定する ことを特徴とする磁気共鳴断層撮影装置の作動方法。

IPC (1)：

A61B5/055

FI (1)：

A61B5/05 370

F-Term (10)：

4C096AB38 ,  4C096AD02 ,  4C096AD07 ,  4C096AD14 ,  4C096BB32 ,  4C096DC15 ,  4C096DC16 ,  4C096DC19 ,  4C096DC21 ,  4C096DC36

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 独国特許出願公開第10160075号明細書
  
• 米国特許出願公開第2002/0198447号明細書
  
• 米国特許第6529762号明細書
  
• 独国特許出願公開第19943404号明細書