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J-GLOBAL ID：200903063903295578
質量分析方法及び質量分析装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997126715
Publication number (International publication number)：1998318983
Application date： May. 16, 1997
Publication date： Dec. 04, 1998
Summary：
【要約】【課題】質量分析計を用いた定量分析において、定量結果の信頼性を検証し判断する手段を提供する。【解決手段】検量線作成時に標準試料のマススペクトルを保存し、未知試料測定時に先に保存した標準試料のマススペクトルと未知試料のマススペクトルを比較することにより、定量結果の信頼性を判断する。【効果】定量結果の信頼性を数値を元に評価する為、分析者の判断によって評価が変わることがない。すなわち分析者の熟練度により評価が左右されず、誰でも一定の評価を得ることが出来る。
Claim (excerpt)：
試料をイオン化し、前記イオン化試料を質量に応じて分離し、前記分離されたイオンを検出して分析する質量分析方法において、前記分離により試料に含まれる特定質量数に対応する量を計測し、前記試料と前記試料と異なる試料における共通の検出項目を比較、あるいは、同一試料における異なる質量数に対応する検出量を比較し、この比較により信頼性にかかるデータを出力することを特徴とする質量分析方法。
Patent cited by the Patent：
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