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J-GLOBAL ID:200903063909214545

光触媒フィルム及びその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 金山 聡 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998204764
Publication number (International publication number):2000033271
Application date: Jul. 21, 1998
Publication date: Feb. 02, 2000
Summary:
【要約】【課題】 光触媒層を設けたプラスチックフィルムが、光触媒フィルムとして使用されたとき、上記のプラスチックフィルムが、光触媒の作用によって分解したり、劣化したりはしない透明な光触媒フィルム及びその製造方法の提供を課題とする。【解決手段】基材フィルム1の一方の側に、厚みが100〜400Åのケイ素酸化物の蒸着層からなる活性遮断層2及び酸化チタンを主成分とする光触媒層3とからなる光触媒フィルム10であって、上記の活性遮断層2がSiOx 及び炭素、水素、ケイ素、酸素の中の少なくとも1種類以上の化合物を化学蒸着法により連続して含ませる。
Claim (excerpt):
基材フイルム、厚みが100〜400Åの蒸着層からなる活性遮断層及び光活性による分解性をもつ酸化チタンの光触媒層からなる光触媒フィルムであって、該活性遮断層がケイ素酸化物、及び炭素、水素とケイ素、酸素のなかの2種以上の元素からなる化合物を連続して含むことを特徴とする光触媒フィルム。
IPC (6):
B01J 35/02 ,  B32B 9/00 ,  C23C 16/30 ,  C23C 16/40 ,  C23C 16/50 ,  C23C 28/04
FI (6):
B01J 35/02 J ,  B32B 9/00 A ,  C23C 16/30 ,  C23C 16/40 ,  C23C 16/50 ,  C23C 28/04
F-Term (81):
4F100AA07C ,  4F100AA20A ,  4F100AA20B ,  4F100AA21B ,  4F100AH02B ,  4F100AH06B ,  4F100AR00A ,  4F100AT00C ,  4F100BA03 ,  4F100BA06 ,  4F100BA10B ,  4F100BA10C ,  4F100EH66A ,  4F100EJ38C ,  4F100EJ55A ,  4F100EJ61A ,  4F100GB01 ,  4F100GB08 ,  4F100GB15 ,  4F100GB48 ,  4F100GB66 ,  4F100JA20A ,  4F100JL08B ,  4F100JM01B ,  4F100YY00A ,  4G069AA03 ,  4G069AA08 ,  4G069AA09 ,  4G069AA12 ,  4G069BA02B ,  4G069BA32C ,  4G069BA37 ,  4G069BA48A ,  4G069BB04A ,  4G069BB04B ,  4G069BC50A ,  4G069BC50B ,  4G069BD01B ,  4G069BD02A ,  4G069BD02B ,  4G069BD04B ,  4G069BD05B ,  4G069BE06B ,  4G069BE32B ,  4G069CA01 ,  4G069DA06 ,  4G069EA08 ,  4G069EB16X ,  4G069ED10 ,  4G069EE01 ,  4G069EE10 ,  4G069FA02 ,  4G069FA03 ,  4G069FA06 ,  4G069FB03 ,  4G069FB23 ,  4G069FC04 ,  4G069FC06 ,  4G069FC08 ,  4K030AA06 ,  4K030AA09 ,  4K030AA14 ,  4K030BA24 ,  4K030BA27 ,  4K030BA29 ,  4K030BA44 ,  4K030CA07 ,  4K030CA12 ,  4K030DA08 ,  4K030FA01 ,  4K030HA03 ,  4K030JA01 ,  4K030LA11 ,  4K044AA16 ,  4K044AB02 ,  4K044BA12 ,  4K044BA14 ,  4K044BB03 ,  4K044BC02 ,  4K044CA14 ,  4K044CA22
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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