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J-GLOBAL ID：200903063932310748

光束測定デバイス

Inventor： アラン ル マルシャン
Applicant, Patent owner： アンストリュマン エス.アー.
Agent (1)： 武田 正彦 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994295525
Publication number (International publication number)：1995280646
Application date： Oct. 21, 1994
Publication date： Oct. 27, 1995
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 比較的低コストで、大きな動作範囲を有し、かつ極めて迅速に測定値を得ることができる光束測定デバイスを提供する。【構成】 受光装置1により生成される信号(m)を受け取るゲイン従属回路10,9を備える光束測定デバイスであって、前記ゲイン従属回路は、該ゲイン制御回路及びコンパレータ10を含み、かつ受光装置1により供給される該電気信号(m)を記録しかつ評価するための手段と接続しており、さらに、連続関数fの特性値を含む従属メモリー11を含み、受光装置1によって受け取られた光束(Φ)に従って、従属信号(HT)を発生するものであり、信号は、ゲインG=f(m)となるように、該ゲイン制御回路に送られるものである。

Claim (excerpt)：

測定すべき光束を受け取り、かつ電気信号(m)を供給するゲイン制御可能受光装置と、該受光装置のゲインを制御するための回路と、該受光装置によって供給された該電気信号を記録かつ評価し、求める測定値を生成する手段とを含む光束測定デバイスであって、該受光装置により生成される信号(m)を受け取るゲイン従属回路を含み、該ゲイン従属回路は、該ゲイン制御回路とコンパレータとを含み、かつ該受光装置により供給される該電気信号を記録しかつ評価するための手段と結合しており、該ゲイン従属回路は、連続関数fの特性値を含む従属メモリーを含み、該ゲイン従属回路は、該受光装置によって受け取った光束に従って、従属信号を発生し、該従属信号は、ゲインG=f(m)となるように、該ゲイン制御回路に送られることを特徴とする光束測定デバイス。

IPC (2)：

G01J 1/44 ,  G01J 1/02