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J-GLOBAL ID：200903063956761031
確認方法および確認装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
蛭川 昌信 (外7名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992261773
Publication number (International publication number)：1994110379
Application date： Sep. 30, 1992
Publication date： Apr. 22, 1994
Summary：
【要約】【目的】 偽造防止としての信頼性を飛躍的に向上させ、さらに真偽確認作業の能率、精度を向上させる。【構成】 ある決められたパターン状に位相を変化させる媒体に可干渉な光を透過あるいは反射させて位相変調された光と基準光とを干渉させ、干渉縞パターンを基準パターンと照合するようにしたことを特徴とする。
Claim (excerpt)：
ある決められたパターン状に位相を変化させる媒体に可干渉な光を透過あるいは反射させて位相変調された光と基準光とを干渉させ、干渉縞パターンを基準パターンと照合するようにしたことを特徴とする確認方法。
Patent cited by the Patent：
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