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J-GLOBAL ID：200903063987865110

液晶表示パネルの表示試験装置

Inventor： 丸山 嘉昭
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 井桁 貞一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991283404
Publication number (International publication number)：1993119336
Application date： Oct. 30, 1991
Publication date： May. 18, 1993
Summary：

【要約】【目的】 被試験液晶表示パネルに各種試験信号を印加し表示特性を試験する試験装置に関し、液晶表示パネルの表示試験に際して極く狭い間隔をおいて配列されたガラス基板上の電極に、試験信号を送出する制御回路を容易に接続できる手段を具えた表示試験装置の提供を目的とする。【構成】 基板41の同一面に表示試験に際して液晶表示パネル1の電極12に接触せしめる複数の金属突起42と、金属突起42を介して電極12に信号を印加する導体パターン43を具えた中継パネル4を有し、基板41の一端に装着されたコネクタ6を介して導体パターン43が制御回路3に接続されるように構成する。

Claim (excerpt)：

基板(41)の同一面に表示試験に際して液晶表示パネル(1) の電極(12)に接触せしめる複数の金属突起(42)と、該金属突起(42)を介して該電極(12)に信号を印加する導体パターン(43)を具えた中継パネル(4) を有し、且つ、該基板(41)の一端に装着されたコネクタ(6) を介して該中継パネル(4)の該導体パターン(43)が、試験信号を送出する制御回路(3) に接続されてなることを特徴とする液晶表示パネルの表示試験装置。