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J-GLOBAL ID：200903064030465290

時間分解フーリエ変換分光測定法

Inventor： 増谷浩二
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Agent (1)： 韮澤 弘 (外7名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991064623
Publication number (International publication number)：1993296834
Application date： Mar. 28, 1991
Publication date： Nov. 12, 1993
Summary：

【要約】【目的】 従来の方法を、刺激の繰り返し周期がインタフェログラム信号の持っている最大周波数f<SB>max </SB>の2倍の逆数より長い測定試料に適用可能にする。【構成】 刺激発生器5により試料3にその反応周期の2倍より長い周期で繰り返し刺激を与えると共に、ラピッドスキャン干渉計2を用いた検知器4からの出力を刺激繰り返し周期の2分の1の周期で刺激からの遅延時間を制御してゲート回路10でサンプリングし、ローパスフィルタ11によりサンプリングされた信号のf<1/2τの範囲の周波数成分を取り出し、ロックインアンプ12でその信号に刺激の繰り返し周波数と同じ周波数で同期がとられた参照信号を掛け合わせることにより、励起状態と通常状態の差のインタフェログラムを取り出し、これをフーリエ変換することにより、制御された遅延時間での測定対象の差スペクトルを得ることができる。

Claim (excerpt)：

刺激に対して繰り返し同じ応答を示す測定対象に刺激を周期的に与え、ラピッドスキャン干渉計を用いた検知器の出力をサンプリングして刺激よりある遅延時間に対するインタフェログラムを取得し、フーリエ変換してスペクトルにより刺激に対して繰り返し同じ応答を示す測定対象の反応状態を測定する時間分解フーリエ分光測定法であって、干渉計による変調周波数をf、刺激の繰り返し周波数を1/τとしたとき、m/2τ<f<(m+1)/2τ(mは正の整数)にのみに検知器出力信号が存在する場合に適用する時間分解フーリエ分光方法において、測定対象に反応周期の2倍より長い周期で繰り返し刺激を与えると共に、検知器出力を刺激繰り返し周期の2分の1の周期で刺激からの遅延時間を制御してサンプリングし、サンプリングされた信号のn/2τ<f<(n+1)/2τ(nはn=m+2k又はn=-(m+1)+2kで表されるゼロ又は正の整数。kは奇数)の範囲の周波数成分を取り出し、その信号に刺激の繰り返し周波数の|k|倍の周波数で同期がとられた参照信号を掛け合わせることにより、励起状態の試料から得られるインタフェログラムと通常状態の試料から得られるインタフェログラムの差のインタフェログラムを取り出し、この差のインタフェログラムをフーリエ変換することにより、前記制御された遅延時間での測定対象のスペクトルと通常状態での測定対象のスペクトルの差スペクトルを得ることを特徴とする時間分解フーリエ変換分光測定法。