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J-GLOBAL ID：200903064039543692

測距装置

Inventor： 森 賢一
Applicant, Patent owner： 富士電機株式会社
Agent (1)： 山田 稔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993240219
Publication number (International publication number)：1995092376
Application date： Sep. 28, 1993
Publication date： Apr. 07, 1995
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 本発明は、カメラ等の自動焦点装置に適用可能の測距装置に関し、特に、センサアレイの感度バラツキの補正回路に関する。【構成】 オートフォーカスICの量子化部3の補正回路においては、PROM3eに書き込まれたチップのセンサ感度バラツキ補正データC1 〜Cn がデコーダ3dから出力される選択信号によって順次出力線OL2にシリアル転送され、加算回路3gでは対応するセンサの計数値L1 〜Ln に補正データC1 〜Cnを加算し、その加算値たる補正計数値N1 〜Nn を論理部へ量子化信号として順次シリアル転送する。コントラストのないテストパターンを測距対象としたとき、一方のセンサアレイの計数値の実測分布,他方のセンサアレイの計数値の実測分布を最小2乗法で近似2次曲線に近似し、それぞれの実測分布と平均近似2次曲線との差から差値分布をそれぞれ得て、最大値を求め、その最大値と差値分布の差を取り、新たな差値の四捨五入値を補正データとする。

Claim (excerpt)：

左右一対の結像レンズによって測距対象の像がぞれぞれ結像される左右一対の第1及び第2のセンサアレイと、第1及び第2のセンサアレイにそれぞれ対応し、センサ出力を量子化して量子化値に変換すると共に、それをセンサ感度バラツキを補正した補正量子化値に変換する第1及び第2の量子化部と、第1及び第2の量子化部からの量子化値列を基にセンサアドレスの所定のゾーンに亘る補正量子化値の相関性を評価して距離信号を得る論理部とを備えた測距装置において、前記第1及び第2の量子化部は、センサアドレス毎のセンサ感度バラツキ補正データを格納する補正データ記憶手段と、前記各量子化値に対応するセンサアドレスの補正データを加算して前記補正量子化値とする加算手段と、をそれぞれ有しており、前記補正データとしては以下のΔ1i, Δ2iが設定されてなることを特徴とする測距装置。コントラストのないテストパターンを前記測距対象としたとき、第1のセンサアレイの量子化値の実測分布(x1i ,y1i),第2のセンサアレイの量子化値の実測分布(x2i ,y2i)を最小2乗法で近似2次曲線y=a1 x2 +b1,y=a2 x2 +b2 に近似して係数a1,a2 を求め、実測分布(x1i ,y1i), (x2i,y2i)と平均近似2次曲線y=(a1 +a2 )x2 /2との差から差値{y1i-(a1 +a2 )x1i2 /2}, {y2i-(a1 +a2 )x2i2 /2}を得て、それぞれ差値の最大値max1 ,max2 を求め、その最大値max1 ,max2 と前記差値の差をそれぞれ取り、新たな差値〔max1 -{y1i-(a1 +a2 )x1i2 /2}〕の四捨五入値であるΔ1i,新たな差値Δ2i=〔max2 -{y2i-(a1 +a2 )x2i2 /2}〕の四捨五入値であるΔ2i但し、x1i ,x2i:センサアドレスy1i,y2i:量子化値a1 ,a2 ,b1 ,b2 :係数

IPC (4)：

G02B 7/30 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G03B 13/36

FI (2)：

G02B 7/11 A ,  G03B 3/00 A