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J-GLOBAL ID：200903064069646593

水処理プラント監視装置

Inventor： 千 葉 まゆみ ,  宮 島 潮 子 ,  升 方 正
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996022850
Publication number (International publication number)：1997215976
Application date： Feb. 08, 1996
Publication date： Aug. 19, 1997
Summary：

【要約】【課題】 水質計測器の汚れに起因して、誤まった運転操作が行なわれるのを防止することが可能にする。【解決手段】 計測器汚れ診断手段53は、水質計測器4,12からの計測信号を入力し、計測器の測定部が異常に汚れていないかどうかを診断する。この診断に際しては、ボックスカウンティング法によりフラクタル次元Dを求め、Dの値が所定の閾値を超えた場合に異常と診断する。

Claim (excerpt)：

水質計測器の計測結果に基いて、各種の水処理を行う水処理プラントにおいて、前記水質計測器からの計測信号を解析することにより、その計測対象水と接する測定部の汚れの度合いを診断する計測器汚れ診断手段を、備えたことを特徴とする水処理プラント監視装置。

IPC (3)：

C02F 1/00 ,  G05B 23/02 ,  G05B 23/02 302

FI (4)：

C02F 1/00 D ,  C02F 1/00 V ,  G05B 23/02 P ,  G05B 23/02 302 P