Pat

J-GLOBAL ID：200903064207653741

光学特性測定装置

Inventor： 宮▲崎▼ 桂一
Applicant, Patent owner： 富士写真フイルム株式会社
Agent (3)： 渡辺 望稔 ,  三和 晴子 ,  福島 弘薫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002282523
Publication number (International publication number)：2004117236
Application date： Sep. 27, 2002
Publication date： Apr. 15, 2004
Summary：

【課題】照明側と受光側の両方の角度を変化させた場合の光学特性の測定を効率よく行えるようにする。【解決手段】光源ランプ、調光マスク、チューナブルフィルタ及び偏光フィルタを有する光源部と、前記光源部から射出され絞りを通過した光を平行光とする第一のリレーレンズ系と、前記平行光を前記測定試料上に集光する第一のコリメータレンズ系と、前記測定試料の透過光または反射光を平行光とする第二のコリメータレンズ系と、この平行光を集光する第二のリレーレンズ系と、集光され絞りを通過した光を、偏光フィルタ及びチューナブルフィルタを介して受光するCCDを有する受光部と、このデータに所定の信号処理を行う信号処理部とを備えた光学特性測定装置を提供することにより前記課題を解決する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

測定試料の光学特性を測定する光学特性測定装置であって、 光源ランプ、2次元配列調光マスク、チューナブルフィルタ及び偏光フィルタを有する光源部と、 前記光源部から射出され絞りを通過した光を平行光とする第一のリレーレンズ系と、 前記平行光を前記測定試料上に集光する第一のコリメータレンズ系と、 前記測定試料の透過光または反射光を、平行光とする第二のコリメータレンズ系と、 前記第二のコリメータレンズ系による平行光を集光する第二のリレーレンズ系と、 前記第二のリレーレンズ系により集光され絞りを通過した光を、偏光フィルタ及びチューナブルフィルタを介して受光するCCDを有する受光部と、 前記受光部で受光した光のデータを受け取り、これに所定の信号処理を行う信号処理部と、 を備えたことを特徴とする光学特性測定装置。

IPC (4)：

G01N21/27 ,  G01M11/00 ,  G01N21/21 ,  G02B27/28

FI (4)：

G01N21/27 A ,  G01M11/00 T ,  G01N21/21 Z ,  G02B27/28 Z

F-Term (22)：

2G059AA02 ,  2G059BB10 ,  2G059BB15 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059GG04 ,  2G059GG10 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G086EE05 ,  2G086EE12 ,  2H099AA00 ,  2H099BA09 ,  2H099CA11