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J-GLOBAL ID：200903064413447775
走査プローブ顕微鏡による固体微粒子の観察方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
石田 敬 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999285449
Publication number (International publication number)：2001108596
Application date： Oct. 06, 1999
Publication date： Apr. 20, 2001
Summary：
【要約】【課題】 粉末のような微粒子の形態および分散状態を観察することができる走査プローブ顕微鏡による観察方法を提供する。【解決手段】 固体微粒子を分散媒中に分散させ、分散媒内の電極間に直流電界を印加し、固体微粒子を電気泳動により電極の一方に固着させて観察する。
Claim (excerpt)：
固体微粒子を分散媒中に分散させ、該分散媒内の電極間に直流電界を印加し、該固体微粒子を電気泳動により該電極の一方に固着させて観察することを特徴とする走査プローブ顕微鏡による固体微粒子の観察方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 13/10 D
, G01N 13/16 A
