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J-GLOBAL ID：200903064470438650

ショート検出端子付き半導体集積回路、実装基板、及びショート検出方法

Inventor： 前田 栄治郎 ,  山口 慎一郎 ,  清水 淳
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  日立コンピュータエンジニアリング株式会社
Agent (1)： 玉村 静世
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995026265
Publication number (International publication number)：1996201474
Application date： Jan. 20, 1995
Publication date： Aug. 09, 1996
Summary：

【要約】【目的】 外部端子と電源電圧との短絡を検出するショート検出端子を備えた半導体集積回路を提供する。【構成】 外部端子の1つであるショート検出端子3と、当該ショート検出端子3と他の各外部端子PI1〜PIn及びPO1〜POnとを共通に接続する配線と、ショート検出端子3から各外部端子PI1〜PIn及びPO1〜POnへ電流を流す整流素子1とを備えるショート検出端子付き半導体集積回路100は、ショート検出端子3に電圧又は電流を供給することで外部端子PI1〜PIn及びPO1〜POnと電源電圧Veeとのショートを容易に検出可能にする。

Claim (excerpt)：

半導体集積回路の外部端子へ向けて整流作用を行う整流素子を介して、上記外部端子に共通に接続されるショート検出端子を新たな外部端子として備えることを特徴とするショート検出端子付き半導体集積回路。

IPC (4)：

G01R 31/26 ,  G01R 31/02 ,  G01R 31/28 ,  H01L 21/66