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J-GLOBAL ID：200903064527448356

サンプル中のリガンドの分析方法およびサンプル中のリガンドを分析する装置

Inventor：
伴 知晃

About 伴 知晃

, 
桐野 秀樹

About 桐野 秀樹


Applicant, Patent owner：
松下電器産業株式会社

About 松下電器産業株式会社


Agent (1)： 特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004371780
Publication number (International publication number)：2005208051
Application date： Dec. 22, 2004
Publication date： Aug. 04, 2005
Summary：
【課題】 振動および光学設計に影響を受けず、かつ高精度の分析が可能な、サンプルの分析方法を提供する。【解決手段】 サンプルの分析方法において、リガンドを含むサンプルをそのリガンド特異的に結合しうるレセプターとを結合させ、前記レセプターに外部振動を与えながら、前記レセプターと前記リガンドとの結合により生じた変化を、表面プラズモン共鳴角の周波数特性を測定することにより、分析する。このサンプルの分析方法は、例えば、生物学、医学、薬学、農学等の分野に有用である。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
リガンドを含むサンプルと、 前記リガンドと特異的に結合しうるレセプターがその片面上に固定化され、その裏面に光学プリズムが配置された、表面プラズモン共鳴を起しうる金属薄膜と、 計測光を照射する照射手段と、 前記計測光の反射光を受光する受光手段と、 前記レセプターと結合したリガンドを分析する分析手段とを準備し、 前記サンプルと前記金属薄膜とを接触させて前記サンプル中の前記リガンドを前記レセプターに結合させ、 前記照射手段により、前記金属薄膜の前記レセプターが固定された面と逆の面に、計測光を照射し、 前記受光手段により、前記金属薄膜の面上で反射された前記計測光の反射光を受光し、 前記分析手段により、前記反射光から、前記金属薄膜近傍の誘電率の変化により生じた表面プラズモン共鳴角の変化を検出する、サンプル中の前記リガンドの分析方法であって、 前記レセプターが固定された領域に外部振動を印加する印加手段を準備し、 前記照射手段により前記計測光を照射しながら、前記印加手段により、前記金属薄膜の前記レセプターが固定された面に外部振動を印加し、 前記分析手段により、さらに、外部振動に対する表面プラズモン共鳴角の周波数特性を得、その周波数特性から前記レセプターと結合した前記サンプル中のリガンドを分析することを特徴とする方法。
IPC (2)：
G01N21/27 ,  G01N33/543
FI (2)：
G01N21/27 C ,  G01N33/543 595
F-Term (9)：
2G059AA02 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD15 ,  2G059EE02 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ12 ,  2G059KK01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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