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J-GLOBAL ID:200903064545865070
IC放射線線量計及び放射線線量測定方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
中村 稔 (外9名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000066754
Publication number (International publication number):2001255372
Application date: Mar. 10, 2000
Publication date: Sep. 21, 2001
Summary:
【要約】【課題】 IC放射線線量計及び放射線線量測定方法を提供する。【解決手段】 本発明は、小型軽量で、手軽に放射線線量を計測することができるIC線量計を提供する。また、本発明によるIC線量計は、従来の線量計の2つのカテゴリーの両方の特徴を兼ねた使用が可能である。通電状態でリアルタイム測定をすることも、非通電状態で放射線の影響を累積し、非リアルタイムで測定することも可能である。具体的に本発明は、被放射線量に応じて暗電流が変化する性質を有する放射線検出手段と、該放射線検出手段に接続され、前記暗電流を測定する暗電流測定手段と、該暗電流測定手段による測定結果を被放射線量に換算して出力する出力手段とを備えたことを特徴とする放射線線量計を提供することを目的する。
Claim (excerpt):
被放射線量に応じて暗電流が変化する性質を有する放射線検出手段と、該放射線検出手段に接続され、前記暗電流を測定する暗電流測定手段と、該暗電流測定手段による測定結果を被放射線量に換算して出力する出力手段とを備えたことを特徴とする放射線線量計。
IPC (3):
G01T 1/02
, G01T 1/24
, G01T 7/00
FI (3):
G01T 1/02 B
, G01T 1/24
, G01T 7/00 B
F-Term (9):
2G088BB05
, 2G088GG21
, 2G088JJ33
, 2G088KK01
, 2G088KK02
, 2G088KK11
, 2G088KK27
, 2G088LL21
, 2G088LL28
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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