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J-GLOBAL ID：200903064569466184

超音波診断装置

Inventor： 鎌田 一志 ,  近藤 真一
Applicant, Patent owner： 株式会社日立メディコ
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995094202
Publication number (International publication number)：1996266539
Application date： Mar. 29, 1995
Publication date： Oct. 15, 1996
Summary：

【要約】【目的】画像処理パラメータの設定を正確に短時間で行い、診断効率の向上を図ることにある。【構成】多画面表示器1で複数の同一断層像を作成し、画像処理回路2a〜2dでこれらの断層像に異なる画像処理パラメータを設定するとともに、画像処理した断層像を同時に表示する。表示された断層像の中から任意の断層像を画像選択回路3で選択すると、パラメータ選択回路4で選択した断層像のデータと画像処理パラメータとを比較して、選択した断層像の画像処理パラメータをパラメータ記憶回路4に記憶して、このパラメータを設定する。これにより、画像処理パラメータの違う画像を直接比較でき、短時間で正確な画像処理パラメータの設定ができる。

Claim (excerpt)：

撮影用に画像処理パラメータを設定し、探触子の走査により断層像を撮影する超音波診断装置において、指定した任意の断層像と同一の断層像を複数個作成する多画面作成手段と、前記複数個の断層像をそれぞれ異なる画像処理パラメータで画像処理する画像処理手段と、前記画像処理された複数の断層像を表示する表示手段と、表示された複数の断層像のうち任意の断層像を選択する画像選択手段と、前記選択された画像の画像処理パラメータを前記画像処理手段に撮影用の画像処理パラメータとして再設定するパラメータ設定手段とを備えたことを特徴とする超音波診断装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-062467
  
• 特開昭58-044040
  
• 特開昭62-261343