三次元座標計測装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：山川政樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995206932
Publication number (International publication number)：1997053914
Application date： Aug. 14, 1995
Publication date： Feb. 25, 1997
Summary：

【要約】【課題】光源やカメラの光学的特性,カメラの位置情報は用いず、画像データから対象点の三次元座標を容易にかつ高速に求めることを目的とする。【解決手段】同一平面上にない6つ以上の基準点P1〜Pmに対する測定点Qの位置関係を、複数のカメラC1〜Cnからなる撮像部1で観察して、複数の二次元座標取得手段G1〜Gnからなる二次元座標取得部2で二次元座標として取り込み、これらを合わせることで、測定点Qの三次元座標を得る。

Claim (excerpt)：

複数の撮像手段と、同一平面上にない6つ以上の点からなり、それぞれの相対位置がわかっている基準点に対する、前記撮像手段で得られた撮像画像上での二次元座標を取得する第1の二次元座標取得手段と、前記基準点の二次元座標と相対位置関係とを用いて座標算出パラメーターを算出する座標算出パラメーター計算手段と、前記撮像手段により撮像されたそれぞれの撮像画像上で、測定点の二次元座標を取得する第2の二次元座標取得手段と、前記座標算出パラメーターと前記測定点の二次元座標を用いて測定点の三次元座標を算出する座標算出手段とを備えたことを特徴とする三次元座標計測装置。

IPC (3)：

G01B 11/00 , G06T 7/00 , G06T 1/00

FI (3)：

G01B 11/00 H , G06F 15/62 415 , G06F 15/64 M

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

三次元座標計測方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-334934 Applicant：株式会社小野測器

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