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J-GLOBAL ID：200903064639473000

上まぶた領域、目頭・目尻・上まぶた領域及び目の構造の検出方法及び装置

Inventor： 坂本 靜生
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社
Agent (1)： 京本 直樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992153128
Publication number (International publication number)：1994078901
Application date： Jun. 12, 1992
Publication date： Mar. 22, 1994
Summary：

【要約】【目的】 ノイズや加齢変化に強く、従来より簡易に検出することができる、上まぶた線や目頭・目尻点を検出する方法及び装置を提供する。【構成】 人物顔の目付近を撮影した入力画像信号11と該画像の上まぶた領域信号14を入力とし、該画像をある一方向から調べる第1のV-Ditch Edge 検出手段4により、第1の V-Ditch Edge 信号15を得る。また前記画像画像を前記方向と異なる一方向から調べる第2の V-Ditch Edge 検出手段5により、第2の V-Ditch Edge 信号16を得る。前記上まぶた領域信号14と前記第1の V-Ditch Edge 信号15と前記第2の V-Ditch Edge 信号16の論理和を求め、目頭・目尻点と上まぶた線信号17を第1の論理和手段6から得る、目頭・目尻と上まぶた検出装置22を実現することができる。

Claim (excerpt)：

人物顔の目付近を撮影した画像を頭頂から顎方向に調べたときに、明るさが明から暗に変化する点と、明から暗そして明に変化する点で挟まれる領域を検出し、該領域の幅が瞳幅を基準とするしきい値よりも広く、該領域内の輝度値の平均が最も暗い領域として上まぶた領域を検出することを特徴とする上まぶた領域の検出方法。

IPC (2)：

A61B 5/107 ,  G06F 15/62 380