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J-GLOBAL ID：200903064740335387

半導体デバイスの自己診断方法および装置

Inventor： 井瀬 慎也
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 泉 和人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001261770
Publication number (International publication number)：2003068865
Application date： Aug. 30, 2001
Publication date： Mar. 07, 2003
Summary：

【要約】【課題】 各機能ブロックの自己診断、例えば、半導体装置の電源投入時の自動診断ができるようにすることにより、出荷後の半導体デバイスの動作不良などを容易に診断できる方法および装置を提供する。【解決手段】 メモリにあらかじめ記憶された診断プログラムに従って、各機能ブロックに診断条件を送信するBISTコントローラ20と、前記診断条件に基づいて、対応する機能ブロックを診断し、対応する機能ブロックから診断結果を取得し、その診断結果をBISTコントローラ20に送信する前記BIST回路201と、前記診断結果に基づいて、正常・異常表示を行う主コントローラ40と備え、前記BIST回路201で得られた診断結果をBISTコントローラ20を介して主コントローラ40に送信し、主コントローラ40で正常・異常の表示を行う。

Claim (excerpt)：

基板上に搭載された複数の機能ブロックを有する半導体デバイスの自己診断方法において、メモリにあらかじめ記憶された診断プログラムに従って、BIST回路を制御するBISTコントローラが各機能ブロックに診断条件を送信するステップと、前記診断条件に基づいて、前記BIST回路が対応する機能ブロックを診断するステップと、前記BIST回路が対応する機能ブロックから診断結果を取得し、その診断結果をBISTコントローラに送信するステップと、前記BISTコントローラが診断結果を通常処理を制御する主コントローラに送信するステップと、前記診断結果に基づいて、前記主コントローラが正常・異常表示を行うステップと備えたことを特徴とする半導体デバイスの自己診断方法。

IPC (3)：

H01L 21/822 ,  G01R 31/28 ,  H01L 27/04

FI (2)：

H01L 27/04 T ,  G01R 31/28 V

F-Term (9)：

2G132AA15 ,  2G132AB01 ,  2G132AC03 ,  2G132AK29 ,  2G132AL12 ,  5F038DT08 ,  5F038DT15 ,  5F038DT17 ,  5F038EZ20