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J-GLOBAL ID：200903064745840942

粒子追跡法を用いた流場計測方法

Inventor： 忠政 明彦
Applicant, Patent owner： 松下電工株式会社
Agent (2)： 西川 惠清 ,  森 厚夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005337651
Publication number (International publication number)：2007139724
Application date： Nov. 22, 2005
Publication date： Jun. 07, 2007
Summary：

【課題】トレーサ粒子の位置の追跡が容易であり、しかも速度分布を精度よく抽出することができるようにした粒子追跡法を用いた流場計測方法を提供する。【解決手段】撹拌槽1は有底円筒状であり、撹拌槽1の底面の中心に直交する回転軸3により回転する回転翼2が撹拌槽1内に設けられる。撹拌槽1内の流体7にはトレーサ粒子が混入され、トレーサ粒子の3次元位置がTVカメラ5a,5bを用いた位置計測装置5により非接触で計測される。流場解析装置6では、撹拌翼2の回転軸3の延長方向を一つの座標軸に持つ2次元平面PLを設定し、トレーサ粒子の3次元位置の追跡で得た速度ベクトルを回転軸3の回りに回転させることにより速度ベクトルの始点を2次元平面PLに位置させる。さらに、流場解析装置6は、2次元平面PLの上の速度ベクトルを用いて流場を計測する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

撹拌翼の回転に伴って撹拌翼の回転軸を中心とする流動を生じる撹拌槽内の流体にトレーサ粒子を混入させ、非接触かつ所定の時間間隔で位置計測を行う位置計測装置によりトレーサ粒子の3次元位置を追跡し、トレーサ粒子の位置の時間変化により撹拌槽内の流場を計測する方法であって、撹拌翼の回転軸の延長方向を一つの座標軸に持つ2次元平面を設定し、トレーサ粒子の3次元位置の追跡で得た原データを回転軸の回りに回転させることにより原データを前記2次元平面の位置に配置した後、2次元平面の位置に配置した原データを用いて流場を計測することを特徴とする粒子追跡法を用いた流場計測方法。

IPC (1)：

G01P 5/20

FI (1)：

G01P5/20 F

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 特許第3599938号公報
  
• 特開平3-270723
  
• 特開平3-211465
  
• 特開平4-126137