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J-GLOBAL ID:200903064784065026
異常陰影候補の検出方法および装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
柳田 征史 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996253259
Publication number (International publication number):1998094538
Application date: Sep. 25, 1996
Publication date: Apr. 14, 1998
Summary:
【要約】【課題】 異常陰影候補の検出装置において、検出しようとする異常陰影候補のサイズに拘らず、その異常陰影候補を安定的に検出する。【解決手段】 異常陰影サイズ設定手段12に入力された、検出しようとする異常陰影候補のサイズに基づいて、解像度設定手段13がそのサイズの異常陰影候補に重なって記録された他の構造物を平滑化するような解像度を設定し、解像度変換処理手段14が、記憶手段20から入力された全体画像データを、解像度設定手段13が設定した解像度の画像となるように解像度変換処理を施し、この解像度変換処理が施された画像データに対してアイリスフィルター処理を施すことにより、異常陰影候補に重なって記録された他の構造物による濃度勾配ベクトルの集中度に与える影響を抑制する。
Claim (excerpt):
放射線画像のうち所望とする1または2以上の大きさの異常陰影候補を検出する異常陰影候補の検出方法において、前記放射線画像を前記検出しようとする異常陰影候補の大きさに応じた1または2以上の解像度の画像とするように、前記放射線画像を表す原画像データに解像度変換処理を施し、前記解像度変換処理を施して得られた1または2以上の解像度変換画像データのうち少なくとも1つの前記解像度変換画像データに基づいて、前記異常陰影候補を検出することを特徴とする異常陰影候補の検出方法。
IPC (2):
FI (2):
A61B 6/00 350 D
, G06F 15/62 390 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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特開平4-146728
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陰影検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-247828
Applicant:東芝メディカルエンジニアリング株式会社, 株式会社東芝
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