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J-GLOBAL ID：200903064874693000

蛍光測定装置

Inventor： 小田 竜太郎
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 野口 繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996303637
Publication number (International publication number)：1998132743
Application date： Oct. 28, 1996
Publication date： May. 22, 1998
Summary：

【要約】【課題】 波長正確さを求めるために低圧水銀ランプなどの別の光源を用いることを不要にする。【解決手段】 フィルタ波長特性記憶部2は光学フィルタの波長特性を記憶している。励起光を散乱又は反射する光学素子を試料に代えて試料部に設置した状態で、割算部4はその光学フィルタが光路に挿入されて測定されたスペクトルとその光学フィルタが光路に挿入されずに測定されたスペクトルとの比を求めることによりその光学フィルタの波長特性を求める。比較部6は、割算部4で求められたその光学フィルタの波長特性のピーク波長値をフィルタ波長特性記憶部2に記憶されている波長特性のピーク波長値と比較することにより、その蛍光測定装置の波長正確さを求める。

Claim (excerpt)：

連続波長光を発生する光源、その光源からの光を分光して試料部の試料に照射する励起光学系、試料から発生した蛍光を分光する蛍光分光系、及びその蛍光分光系により分光された蛍光を検出する検出器を備えた蛍光測定装置において、吸収ピークを持つ波長特性の光学フィルタを励起光又は蛍光の光路に挿入する機構と、前記光学フィルタの波長特性を記憶しているフィルタ波長特性記憶部と、励起光を散乱又は反射する光学素子を試料に代えて前記試料部に設置した状態で、前記光学フィルタが光路に挿入されて測定されたスペクトルと前記光学フィルタが光路に挿入されずに測定されたスペクトルとの比を求めることにより前記光学フィルタの波長特性を求める割算部と、前記割算部で求められた光学フィルタの波長特性のピーク波長値を前記フィルタ波長特性記憶部に記憶されている波長特性のピーク波長値と比較することによりこの蛍光測定装置の波長正確さを求める比較部と、を備えたことを特徴とする蛍光測定装置。