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J-GLOBAL ID：200903064891530297

光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置

Inventor： 前田 和成 ,  藤田 康之
Applicant, Patent owner： エヌティエヌ株式会社
Agent (1)： 深見 久郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991345304
Publication number (International publication number)：1993172760
Application date： Dec. 26, 1991
Publication date： Jul. 09, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 この発明はセンサを中間調の欠陥の検出しやすい角度に取付けて中間調の欠陥を欠陥と判別できるような光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置を提供することを主要な特徴とする。【構成】 可動ステージ2の上に液晶ディスプレイ3を設置し、液晶ディスプレイ3にパターンジェネレータ11から発生された表示パターンを発生させ、可動ステージ2を一方方向に移動し、液晶ディスプレイ3上の表示パターン上方に取付けられたCCDユニット4および斜め上方に取付けられたCCDユニット5によって読取る。パーソナルコンピュータ6はその読取値と標準のパターンとを比較し、欠陥および中間調の欠陥を判別する。

Claim (excerpt)：

液晶ディスプレイの欠陥を検査するための光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置であって、前記液晶ディスプレイを一方方向に移動させるための可動ステージ、前記液晶ディスプレイに検査のためのパターンを表示させる表示制御手段、前記可動ステージの上方および斜め上方あるいはそのいずれか一方から前記液晶ディスプレイの表示パターンを読取るイメージセンサ、および前記イメージセンサの読取値より、前記液晶ディスプレイの欠陥を判別する判別手段を備えた、光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置。

IPC (3)：

G01N 21/88 ,  G01M 11/00 ,  G02F 1/13 101