Pat
J-GLOBAL ID：200903064915282460
写真測量システムおよび写真測量方法
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
松浦 孝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997034330
Publication number (International publication number)：1998221072
Application date： Feb. 03, 1997
Publication date： Aug. 21, 1998
Summary：
【要約】【課題】 ステレオペア写真による写真測量において精度の高い測量を行う。【解決手段】 被写体102を原寸Lが既知である基準構造物10と共にカメラ100により主点位置M1およびM2で撮影する。基準構造物10の基準形状の頂点P1、P2、P3と観測点2点を、撮影された2つの写真においてペア指定する。基準形状の頂点および観測点の写真座標からそれぞれの3次元座標を、逐次近似法を用いて共線方程式により求める。基準形状の頂点の3次元座標から各頂点間の距離を求め、原寸Lとのずれ量を算出する。ずれ量が許容範囲であれば観測点のペア指定は正確であると判断する。
Claim (excerpt)：
互いに異なる撮影位置およびまたは撮影姿勢にて得られ、測量対象物と形状および大きさを特定するパラメータが既知である基準構造物とが含まれる2つの被写界像を、それぞれ、第1の記録画像および第2の記録画像として記録する画像記録手段と、前記第1の記録画像における前記基準構造物上の複数点の2次元座標と、前記第2の記録画像における前記複数点の2次元座標と、前記第1の記録画像における観測点の2次元座標と、前記第2の記録画像における前記観測点の2次元座標とを取得する2次元座標取得手段と、前記2次元座標取得手段により得られた前記第1の記録画像における前記複数点の2次元座標、前記第2の記録画像における前記複数点の2次元座標、前記第1の記録画像における前記観測点の2次元座標、前記第2の記録画像における前記観測点の2次元座標と、予め設定された前記第1の記録画像を記録した時の撮影姿勢に対する前記第2の記録画像を記録した時の撮影姿勢の相対的な変位量、および前記第1の記録画像を記録した時の撮影位置に対する前記第2の記録画像を記録した時の撮影位置の相対的な移動量とに基づいて、前記複数点の3次元座標と前記観測点の3次元座標を未知数とする共線方程式を逐次近似解法を用いて前記未知数を求める3次元座標算出手段と、前記3次元座標算出手段により算出された前記複数点の3次元座標値に基づいて前記パラメータに対応する値を演算する情報演算手段と、前記情報演算手段により演算された値と前記パラメータとを比較し前記2次元座標取得手段が取得した前記観測点の2次元座標値が適正であるか否かを判別する判別手段とを備えたことを特徴とする写真測量システム。
IPC (2)：
FI (2)：
Return to Previous Page
