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J-GLOBAL ID：200903064929724953
異常診断方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
光石 俊郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993013278
Publication number (International publication number)：1994229791
Application date： Jan. 29, 1993
Publication date： Aug. 19, 1994
Summary：
【要約】【目的】 プラントまたは装置において、何れの機器またはセンサで異常が発生しているかを正確に診断することができる異常診断方法を提供する。【構成】 センサ6、7、8の検出データに基づき、機器モデル53-1とアクチュエータモデル54-1とによってセンサ9の検出データと同種の第1の予測データを算出し、同時にセンサ6、8の検出データと指令信号bとに基づき、機器モデル53-2とアクチュエータモデル54-2とによってセンサ9の検出データと同種の第2の予測データを算した後、診断部56においてセンサ9の検出データ、第1の予測データ及び第2の予測データを各々比較し、その比較結果を組み合わせることによってセンサ6〜9等の異常診断を行うものである。
Claim (excerpt)：
制御装置によって遠隔或いは自動で制御される複数の機器及びアクチュエータと、これらの機器及びアクチュエータの動作状態量等を検出する各種のセンサとを有するプラント或いは装置において、前記機器及びセンサの異常を診断する異常診断方法であって、前記機器或いはアクチュエータに装着され、これらの動作状態量を検出するセンサの検出データと、他の状態量を検出する複数のセンサの検出データとから、比較対象とした機器或いはアクチュエータの動作状態量の予測値を表わす第1の予測データを算出するとともに、前記他の状態量を検出する複数のセンサの検出データと前記制御装置から出力される指令信号とから前記動作状態量の予測値を表わす第2の予測データを算出し、その後前記動作状態量を検出するセンサの検出データ、前記第1の予測データ及び前記第2の予測データを各々比較し、その比較結果を組み合わせることによって前記プラント或いは装置の機器及びセンサの異常を診断することを特徴とする異常診断方法。
IPC (2)：
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