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J-GLOBAL ID：200903065037268771
電子部品の端子検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高橋 清
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995080879
Publication number (International publication number)：1996247735
Application date： Mar. 14, 1995
Publication date： Sep. 27, 1996
Summary：
【要約】【目的】 電子部品を装着した状態に近い状態で検査可能な電子部品の端子検査装置を提供する。【構成】ガラスデーブル1に載せた被測定対象ワークWのリードL下面にレーザ発光部10からレーザ光を照射し、その反射光をポジションセンサ12により受光し、反射光の変位量pから、リードLの浮き量を求める。
Claim (excerpt)：
被検査対象である電子部品を載置する光透過体と、該光透過体の下側から載置された電子部品の端子の下面に光を投射する手段と、該端子に反射される反射光の基準位置からの偏差を検出する手段と、該検出する手段からの信号により前記電子部品の端子下面の基準位置からの変位を算出する手段と、を備えたことを特徴とする電子部品の端子検査装置。
IPC (4)：
G01B 11/24
, G01B 11/14
, G01C 3/06
, H01L 21/66
G01B 11/24 C
, G01B 11/14 Z
, G01C 3/06 A
, H01L 21/66 J
