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J-GLOBAL ID：200903065117347702
顕熱流解析方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
森 哲也 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999004212
Publication number (International publication number)：2000206268
Application date： Jan. 11, 1999
Publication date： Jul. 28, 2000
Summary：
【要約】【課題】 数日から最大で年間にわたって建物の本体への蓄熱過程を考慮した非定常解析を行なうのに好適な顕熱流解析方法を提供する。【解決手段】 解析対象期間内に複数の解析時点を設定し、各解析時点における微小要素iの放射束Bi に基づいて顕熱流の解析を行う。天空を仮想的に複数の領域に分割したときのそれら領域のうち各解析時点において太陽が位置する領域を選定するに際して、重複領域が存在するときはその重複分を除いた選定を行い、選定した領域に太陽が位置すると想定して、正規化放射束Bi /Ea を下式により算出し、各解析時点に対応させて正規化放射束Bi /Ea を読み出し、各解析時点に対応する正規化放射束Bi /Ea に、その解析時点の属する日における全天日射熱量Ea を乗じて、各解析時点における放射束Bi を算出する。【数14】
Claim (excerpt)：
解析対象期間内に複数の解析時点を設定するとともに、建物の外壁面をn個の微小要素に分割し、前記各解析時点におけるi(1≦i≦n)番目の微小要素の放射束Bi を算出し、算出した各放射束Bi に基づいて、前記建物の外壁面で生じる顕熱流の解析を行う方法であって、太陽の軌跡及び一日当たりの太陽からの全天日射熱量Ea を少なくとも前記解析対象期間にわたって記録した標準気象データをあらかじめ記憶手段に格納しておく格納ステップと、前記記憶手段の標準気象データを参照して、天空を仮想的に複数の領域に分割したときのそれら領域のうち前記各解析時点において太陽が位置する領域を選定するに際して、重複領域が存在するときはその重複分を除いた選定を行う選定ステップと、選定した領域に太陽が位置すると想定して、前記全天日射熱量Ea により正規化された前記放射束Bi である正規化放射束Bi /Ea を、前記i番目の微小要素の放射能、反射率及び形態係数をそれぞれEi 、ρi 及びFi として下式により算出し、算出した正規化放射束Bi /Ea を前記記憶手段に格納する算出ステップと、前記各解析時点に対応させて前記正規化放射束Bi /Ea を前記記憶手段から読み出す読出ステップと、前記記憶手段の標準気象データを参照して、前記各解析時点に対応する正規化放射束Bi /Ea に、当該解析時点の属する日における全天日射熱量Ea を乗じて、前記各解析時点における放射束Bi を算出する算出ステップと、を含むことを特徴とする顕熱流解析方法。【数1】
IPC (2)：
FI (2)：
G01W 1/00 A
, G06F 15/31 Z
5B056AA06
, 5B056BB03
, 5B056BB71
, 5B056BB95
, 5B056HH00
