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J-GLOBAL ID：200903065127996300

ピンホール検査装置

Inventor： 菅埜 幸治 ,  奥村 由治 ,  安藤 勝敏
Applicant, Patent owner： 東レ株式会社
Agent (1)： 小川 信一 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992173158
Publication number (International publication number)：1994018445
Application date： Jun. 30, 1992
Publication date： Jan. 25, 1994
Summary：

【要約】【目的】 固体撮像素子を受光部に用いたイメージセンサ方式の特長を生かしつつ、光の透過性の高いシートにおける小径のピンホールを高精度に検出可能にしたピンホール検査装置を提供する。【構成】 測定対象となるシート4の一方に光源1を配置し、他方に固体撮像素子からなる受光部6を配置したイメージセンサ方式のピンホール検査装置において、シート4と光源1との間に偏光板3を配置し、シート4と受光部6との間に偏光板5を配置し、これら一対の偏光板3,5の偏光面のずれを20度以下にする。

Claim (excerpt)：

測定対象となるシートの一方に光源を配置し、他方に固体撮像素子からなる受光部を配置したイメージセンサ方式のピンホール検査装置において、前記シートと前記光源との間および前記シートと前記受光部との間にそれぞれ偏光板を配置し、かつ該一対の偏光板の偏光面のずれを20度以下にしたことを特徴とするピンホール検査装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭50-039591
  
• 特開昭63-163152
  
• 特開平2-107951
  
• 特公昭46-042151