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J-GLOBAL ID:200903065141159380
遠紫外線感受性フォトレジスト
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
宇井 正一 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993035996
Publication number (International publication number):1994011829
Application date: Feb. 25, 1993
Publication date: Jan. 21, 1994
Summary:
【要約】【目的】 レジストの露光と後露光焼付けの間の長く保たれた時間の間に改良されたCD安定性を示すポジティブワーキング遠紫外線感受性レジストを提供する。【構成】 水に不溶性であるが通常水性アルカリ性媒体に可溶であるポリマー、化学線に露光されると酸を発生する光開始剤、及び前記アルカリ性媒体中の通常可溶性のポリマーの溶解を防ぐ酸不安定な化合物である多価フェノールと3級ブチルアルコールの混合炭酸エステルを含むポジティブワーキングフォトレジスト組成物。
Claim (excerpt):
水に不溶性であるが通常水性アルカリ性媒体に可溶であるポリマー、化学線に露光されると酸を発生する光開始剤、及び前記アルカリ性媒体中の通常可溶性のポリマーの溶解を防ぐ酸不安定な化合物である多価フェノールと3級ブチルアルコールの混合炭酸エステルを含むポジティブワーキングフォトレジスト組成物。
IPC (3):
G03F 7/004 503
, G03F 7/039 501
, H01L 21/027
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (14)
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特開昭63-027829
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特開昭63-250642
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特開昭64-035433
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特開平2-018564
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特開昭60-150047
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特開昭62-229139
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特開平3-192361
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特開平3-215863
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特開昭63-231442
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特開平3-152543
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特開平4-217251
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特開平4-295472
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パタン形成材料
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-227820
Applicant:株式会社日立製作所, 日立化成工業株式会社
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酸不安定基を含有する感放射線混合物およびレリーフパターン、レリーフ画像の作製方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-061566
Applicant:ビーエーエスエフアクチェンゲゼルシャフト
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