Pat
J-GLOBAL ID:200903065145926505

試料成分分析システム並びにこのシステムに使用されるセンサチップ及びセンサパック

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 世良 和信 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999208133
Publication number (International publication number):2000171427
Application date: Jul. 22, 1999
Publication date: Jun. 23, 2000
Summary:
【要約】【課題】 センサチップの分析装置への装着が容易であり、かつ簡単な構造の分析装置を有する試料成分分析システムを提供する。【解決手段】 分析装置1の開口部11にセンサチップ3をセンサパック2ごと挿入する(図3(a))。センサパック2がスライダ16を押し込むと支持部材12が回転し、保持部材13がフィルム5を突き破りセンサチップ3の孔7を貫通する(図3(b))。センサパック2の包装材4を引き抜くと、センサチップ3のみが保持部材13によって保持される。ボタン123を押すと支持部材12が回転し、保持が解除され、センサチップ3を廃棄できる(図3(d))。
Claim (excerpt):
試料と反応する反応部を有するセンサチップを包装材で包装したセンサパックと、前記反応部の変化を検出して前記試料の成分を分析する分析装置とを備えた試料成分分析システムにおいて、前記分析装置は1つのセンサチップを含むセンサパックを受け入れる開口部と、前記開口部から受け入れたセンサパックのうちセンサチップを前記分析装置に保持する保持手段とを有することを特徴とする試料成分分析システム。
IPC (5):
G01N 27/28 ,  G01N 27/28 341 ,  G01N 33/483 ,  G01N 33/02 ,  G01N 33/66
FI (5):
G01N 27/28 R ,  G01N 27/28 341 Z ,  G01N 33/483 F ,  G01N 33/02 ,  G01N 33/66 A

Return to Previous Page