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J-GLOBAL ID:200903065208689355

超音波による固体表面の密集クラックの評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小山 義之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993346159
Publication number (International publication number):1995181170
Application date: Dec. 21, 1993
Publication date: Jul. 21, 1995
Summary:
【要約】 (修正有)【目的】 浅いクラックからかなり深いクラックまで、その位置を正確に検出し、且つその深さを定量しうる評価方法を提供すること。【構成】 試験体1を水等の液中に浸漬し、縦波の超音波を一定の焦点距離に集束するように放射する探触子3を、該試験体表面2に焦点を結ぶように該液中に配置し、該探触子3から縦波の超音波パルスを、その入射角θi が、表面波の発生する臨界角θCSに等しくなるようにして、試験体表面2に入射しつつ、該探触子3を該試験体表面2に沿って、クラック4が発生する方向に対し略直角方向に走査し、比較的浅いクラック4の位置と深さを測定すると共に、縦波の屈折角θL が90°以下となる入射角θi で入射しつつ、該探触子3を該試験体表面2に沿って走査し、比較的深いクラック4の位置と深さを測定する。
Claim (excerpt):
試験体を水等の液中に浸漬し、縦波の超音波を一定の焦点距離に集束するように放射する探触子を、該試験体表面に焦点を結ぶように該液中に配置し、該探触子から縦波の超音波パルスを、その入射角θi が、表面波の発生する臨界角θCSに等しくなるようにして、試験体表面に入射しつつ、該探触子を該試験体表面に沿って、クラックが発生する方向に対し略直角方向に走査し、試験体表面で屈折して試験体内を表面に沿って進行するレーリー波が、該試験体表面のクラックで反射するエコーを検出して、比較的浅いクラックの位置と深さを測定すると共に、該探触子より縦波の超音波パルスをその縦波の屈折角θL が90°以下となる入射角θi で入射しつつ、該探触子を該試験体表面に沿って走査し、試験体内をその表面近傍に沿って進行する縦波が該試験体表面のクラックで反射するエコーを検出して、比較的深いクラックの位置と深さを測定する超音波による固体表面の密集クラックの評価方法。

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