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J-GLOBAL ID：200903065217138361
EMI測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
▲柳▼川 信
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994174971
Publication number (International publication number)：1996043466
Application date： Jul. 27, 1994
Publication date： Feb. 16, 1996
Summary：
【要約】【目的】 EMI測定器において、簡単な構成でかつ全ての方向の放射電磁波を検出する。【構成】 被測定物1の周囲を取り囲むように複数のアンテナ41〜46を設置する。これ等アンテナの出力を全て合成して測定する。各アンテナは直交3軸の偏波面全てを検出できるように3つのループアンテナ素子4x,4y,4zによ構成することで、全ての方向の放射電磁波を漏れなく検出できる。
Claim (excerpt)：
電子機器からの干渉雑音を検出測定するEMI測定装置であって、被測定対象物の電子機器の周囲を取り囲むように配置された複数個の受信アンテナと、これ等受信アンテナの出力を合成する合成手段とを含むことを特徴とするEMI測定装置。
IPC (3)：
G01R 29/08
, H01Q 3/00
, H01Q 7/00
