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J-GLOBAL ID：200903065303445463

X線検出方法

Inventor： 金森 隆裕
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995272289
Publication number (International publication number)：1997108207
Application date： Oct. 20, 1995
Publication date： Apr. 28, 1997
Summary：

【要約】【課題】X線の被検査体からの散乱線の影響や、ビームハードニングの影響などを減少させる事で鮮明な被検査体の透過像や断層像を得るためのX線検出方法及び検出器を提供する。【解決手段】検出器14は、X線光子一つ一つを単独に計数できる高速のマイクロフォーカスX線管12と、そのX線側に配置したピンホールコリメータ15より構成される検出器14を含む。さらに信号処理部に計数器18及び低エネルギX線を除去するためのディスクリミネータ17あるいはマルチチャンネル波高分析器30を備える。

Claim (excerpt)：

X線などそのエネルギが連続である電磁波を発生する放射線源と、これを検出する単数あるいは複数の検出器とを用い被検査体の透過像を得るラジオグラフィ法、あるいは断層像撮影法において、前記検出器の前面にピンホールコリメータを配置すると共に光子を単独に計測できるシンチレータを設け、前記光子を計数器により計数する事を特徴とするX線検出方法。

IPC (5)：

A61B 6/00 300 ,  A61B 6/03 320 ,  A61B 6/06 300 ,  G01T 1/29 ,  G21K 5/02

FI (5)：

A61B 6/00 300 Q ,  A61B 6/03 320 S ,  A61B 6/06 300 ,  G01T 1/29 D ,  G21K 5/02 X