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J-GLOBAL ID：200903065352319040

膜面の張力測定方法

Inventor： 安藤 和秀 ,  三次 仁
Applicant, Patent owner： 日本電信電話株式会社
Agent (1)： 井出 直孝 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994149932
Publication number (International publication number)：1996015063
Application date： Jun. 30, 1994
Publication date： Jan. 19, 1996
Summary：

【要約】【目的】 所望の形状の張架された膜面の張力を非接触かつ一度の測定で求める。【構成】 膜面1の少なくとも1箇所に既知の静止集中質量8を設けた状態で振動させ、その単位時間当たりの振動数を測定してその最小固有振動数から膜面の張られている張力を演算により求める。

Claim (excerpt)：

剛性を有する支持部材に支持され一定の張力で張架された膜面の張力を測定する方法において、前記膜面の少なくとも1箇所に付加的な既知の質量を設けた状態で前記膜面を振動させ、その単位時間当たりの振動数を測定してその最小固有振動数から前記膜面の張られている張力を演算により求めることを特徴とする膜面の張力測定方法。