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J-GLOBAL ID:200903065465922320

半導体記憶装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 岩橋 文雄 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999339200
Publication number (International publication number):2001156187
Application date: Nov. 30, 1999
Publication date: Jun. 08, 2001
Summary:
【要約】【課題】 過消去の問題を回避し、スプリット型の利点を残しながら、セル面積の増加を最小限に抑える。【解決手段】 MOSトランジスタのチャネル上に、電位供給源に接続されたコントロールゲート20と、周辺と電気的に絶縁され、コントロールゲート20とウエハ面方向に隣接している第1のフローティングゲート1及び第2のフローティングゲート6と、コントロールゲート20下の半導体の基板22中に、半導体の基板22と伝導形の異なる拡散層23を有し、第1のフローティングゲート1と第2のフローティングゲート6への電子の注入・除去によってデータを記憶することを特徴とする。
Claim (excerpt):
MOSトランジスタのチャネル上に、電位供給源に接続されたコントロールゲートと、周辺と電気的に絶縁され、かつ前記コントロールゲートとウエハ面方向に隣接している第1のフローティングゲートと、周辺と電気的に絶縁され、かつ前記コントロールゲートとウエハ面方向に隣接している第2のフローティングゲートと、前記コントロールゲート下の半導体基板中に、前記半導体基板と伝導形の異なる拡散領域を有し、前記第1のフローティングゲートおよび第2のフローティングゲートへの電子の注入・除去によってデータを記憶する半導体記憶装置。
IPC (4):
H01L 21/8247 ,  H01L 29/788 ,  H01L 29/792 ,  H01L 27/115
FI (2):
H01L 29/78 371 ,  H01L 27/10 434
F-Term (24):
5F001AA34 ,  5F001AB03 ,  5F001AD13 ,  5F001AD60 ,  5F001AD62 ,  5F001AE02 ,  5F001AE03 ,  5F001AE08 ,  5F083EP09 ,  5F083EP13 ,  5F083EP24 ,  5F083EP70 ,  5F083ER09 ,  5F083ER15 ,  5F083ER30 ,  5F083GA09 ,  5F101BA16 ,  5F101BB04 ,  5F101BD03 ,  5F101BD35 ,  5F101BD37 ,  5F101BE02 ,  5F101BE05 ,  5F101BE07

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