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J-GLOBAL ID：200903065468539349
光散乱測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
野口 繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994319357
Publication number (International publication number)：1996152405
Application date： Nov. 28, 1994
Publication date： Jun. 11, 1996
Summary：
【要約】【目的】 G0とGθをともに精度よく検出できるようにするとともに、偏光測定にも影響を与えないようにする。【構成】 測定光4の入射光路上に光学ガラスブロック20を配置し、光学ガラスブロック20の入射方向への透過光を溶液セル2中の試料溶液に入射させ、試料溶液による散乱光を検出器10,10-30〜10-160で検出して散乱光信号強度Gθとする。光学ガラスブロック20の90°方向への散乱光を検出器10-0で検出して測定光信号強度G0とする。
Claim (excerpt)：
溶液セルに入れた試料溶液の目的とする物理量を求めるために、その試料溶液に測定光を入射させ、その測定光の入射方向での測定光信号強度G0と、入射方向からの角度θの方向での散乱光信号強度Gθとを検出する光散乱測定装置において、溶液セルへの測定光入射光路に光学ガラスブロックを配置し、その光学ガラスブロックの透過光を溶液セルへ入射させて散乱光信号強度Gθを検出し、その光学ガラスブロックによる90°方向への散乱光を検出してそれを測定光の入射方向での測定光信号強度G0とすることを特徴とする光散乱測定装置。
IPC (3)：
G01N 21/49
, G01J 3/44
, G01N 15/14
