Pat

J-GLOBAL ID：200903065526209583

腫瘍診断のためのミクロサテライト不安定性の検出方法

Inventor： リュショフ,ヨーゼフ ,  ディートマイエル,ヴォルフガンク ,  フィッシェル,リチャード
Applicant, Patent owner： ベーリンガー マンハイム ゲーエムベーハー
Agent (1)： 細田 芳徳
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998076321
Publication number (International publication number)：1998323199
Application date： Mar. 24, 1998
Publication date： Dec. 08, 1998
Summary：

【要約】【課題】腫瘍診断のためのミクロサテライト不安定性の分析方法及び腫瘍診断のためのミクロサテライトの不安定性によって腫瘍診断の分析をするためのキットを提供すること。【解決手段】a)ヒト生体物質からゲノムDNAを単離し、b)5つの異なるプライマー対を用いて前記DNAの5つの異なるミクロサテライト座のDNAを増幅し、ここで、増幅対象のミクロサテライト座は、2つのモノヌクレオチドリピート座、クラス2aの1または2つのジヌクレオチドリピート座、クラス2bの1または2つのジヌクレオチドリピート座、任意に1つのペンタヌクレオチドリピート座から選択され、c)増幅産物の大きさを決定する工程を含むミクロサテライト座の分析方法、該分析方法を用いて診断を行なう方法及びキット。

Claim (excerpt)：

a)ヒト生体物質からゲノムDNAを単離し、b)5つの異なるプライマー対を用いて前記DNAの5つの異なるミクロサテライト座のDNAを増幅し、ここで、増幅対象のミクロサテライト座は、2つのモノヌクレオチドリピート座、クラス2aの1または2つのジヌクレオチドリピート座、クラス2bの1または2つのジヌクレオチドリピート座、任意に1つのペンタヌクレオチドリピート座から選択され、c)増幅産物の大きさを決定する工程を含むミクロサテライト座の分析方法。

IPC (3)：

C12Q 1/68 ZNA ,  C12N 15/09 ,  G01N 33/50

FI (3)：

C12Q 1/68 ZNA A ,  G01N 33/50 T ,  C12N 15/00 A