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J-GLOBAL ID：200903065624549791

硬さ測定装置および硬さ測定用プローブ

Inventor： 金子 治
Applicant, Patent owner： 株式会社資生堂
Agent (1)： 青木 朗 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992064702
Publication number (International publication number)：1993264427
Application date： Mar. 23, 1992
Publication date： Oct. 12, 1993
Summary：

【要約】【目的】 フーリエ変換を使わず、簡便に生体表面の機械インピーダンスに比例した硬さの指標を得る。【構成】 圧電板16に一定振幅で30Hz以上500Hz以下の一定周波数の電圧を印加して振動子14を振動させることにより測定対象12の表面を振動させ、その加速度を圧電板18で検知し、その実効値の逆数を機械インピーダンスに比例した硬さ指標SHとして表示する。

Claim (excerpt)：

対象物の表面に一定の振幅で30Hz以上500Hz以下の一定の周波数で大きさが変化する力を印加して対象物表面を振動させるための振動発生手段(14,16,28,30)と、該振動発生手段により振動する表面の加速度を検出するための加速度検出手段(14,18)と、該加速度検出手段が検出した加速度の振幅に比例する量を算出するための振幅比例量算出手段(44,48,50,54)とを具備することを特徴とする硬さ測定装置。

IPC (2)：

G01N 3/40 ,  G01H 15/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平4-071533
  
• 特開昭61-240140
  
• 特開平3-081641
  
• 特開昭50-081382