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J-GLOBAL ID：200903065655316876

誘導結合プラズマ質量分析装置及びその方法

Inventor： 松澤 修 ,  中川 良知 ,  高橋 純一
Applicant, Patent owner： セイコー電子工業株式会社
Agent (1)： 林 敬之助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996003361
Publication number (International publication number)：1997199076
Application date： Jan. 11, 1996
Publication date： Jul. 31, 1997
Summary：

【要約】【課題】 定量分析する際に、内標準法や標準添加法により定量測定するが、それぞれ内標準試料や分析試料を一定にして、測定元素の添加量を変えて数回測定しなければならない。それぞれの試料溶液を準備しなければならない。【解決する手段】 霧化された試料を分級し、トーチ部に試料を供給するチャンバに、2つの霧化器を備え、一方の霧化器にて一定の溶液を霧化し、他方の霧化器にて、濃度を変えて測定刷る必要の或る溶液を霧化する。

Claim (excerpt)：

誘導結合プラズマを発生するトーチ部に試料導入路となるチャンバを接続して、霧化された試料を前記トーチ部に供給する誘導結合プラズマ質量分析装置において、前記チャンバの内管に向けて2本以上の噴霧器で霧を噴霧する事を特徴とする誘導結合プラズマ質量分析装置。

IPC (2)：

H01J 49/04 ,  G01N 27/62

FI (2)：

H01J 49/04 ,  G01N 27/62 G

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開平1-158334
  
• 特開昭64-006353
  
• 誘導結合プラズマ質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-242084   Applicant：セイコー電子工業株式会社
• 特開昭60-262045
  
• 特開平1-292247