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J-GLOBAL ID:200903065670133982

物体測定システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): ポレール特許業務法人
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007021338
Publication number (International publication number):2008186375
Application date: Jan. 31, 2007
Publication date: Aug. 14, 2008
Summary:
【課題】測定のためにコストや手間をかけず、移動物の形状及び速度等を測定する。【解決手段】地面と平行な面を照射する第1のレーザ測距装置および測定領域内を斜めに照射する第2のレーザ測距装置から測拒データを得て、それら測拒データを基に物体の3次元形状を測定する。物体の移動に伴い、第2のレーザ測拒装置から得られたデータを用いて物体の形状を計算し、第1のレーザ測距装置から得られたデータを用いて物体の位置および速度を計算する。また時間経過に伴う物体の形状に関するデータを用いて物体の表面形状を計算する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
レーザ測拒装置を用いて領域内に移動する物体を測定する物体測定システムであって、測定対象の該領域にレーザ照射し、該領域内に居る物体に関する位置情報に関する測距データを得るレーザ測距装置と、該レーザ測拒装置から得られた該測拒データに関するデータ処理を行う処理装置と、関連する情報を記憶する記憶手段と有し、 該処理装置は、該測拒データから個別の物体を検出して、該物体ごとに固有の識別情報を付与し、物体ごとの位置データ及び形状データを求める第1の処理手段と、 該測拒データから物体の形状データを求め、該物体の3次元情報を算出する第2の処理手段と、を有し、 該記憶手段は、該第1の処理手段によって処理された該物体の識別情報に対応して、該物体を測定した時刻及び位置データを記憶する第1記憶部と、該第2の処理手段によって処理された該物体の3次元情報を、該物体の識別情報に対応して記憶する第2記憶部と、を有することを特徴とする物体測定システム。
IPC (3):
G08G 1/01 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/24
FI (3):
G08G1/01 C ,  G01B11/00 A ,  G01B11/24 A
F-Term (29):
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA09 ,  2F065AA17 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB15 ,  2F065CC16 ,  2F065DD04 ,  2F065DD06 ,  2F065DD11 ,  2F065FF11 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ07 ,  2F065MM15 ,  2F065MM25 ,  2F065MM28 ,  2F065PP05 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ41 ,  5H180AA01 ,  5H180AA21 ,  5H180BB04 ,  5H180CC03 ,  5H180CC14 ,  5H180DD02 ,  5H180EE02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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